在小孔徑小公差的檢測中（主要是H7級公差及以下）的檢測，常見的方式是采用塞規(guī)檢測，但由于這類塞規(guī)由于設(shè)計公差范圍較小，采用塞規(guī)檢測方法，會存在以下弊端：
    1、塞規(guī)制作成本高
    根據(jù)工具車間和同行業(yè)的數(shù)據(jù)分析，只有塞規(guī)的公差大于0.003mm時，塞規(guī)才能保證95%以上的產(chǎn)品合格率；當(dāng)小于0.0015mm時，只能保證33%的合格率；當(dāng)小于0.0025mm且大于0.0015mm時，只能保證67%的合格率。
    2、使用成本高
    通端的下差和磨損極限的差值即為磨損量，磨損量越小，塞規(guī)的使用壽命越短。
    3、計量困難
    根據(jù)計量室反饋，由于設(shè)計公差范圍太小，約在0.014mm左右，加工難度大，無法讀取準(zhǔn)確的數(shù)值，計量檢測無法保證，驗收合格率低。
    4、產(chǎn)品加工困難

    因為塞規(guī)吃掉了產(chǎn)品要求公差的一部分公差，導(dǎo)致產(chǎn)品加工時壓縮到產(chǎn)品圖要求尺寸的中差，因而對加工的要求也相應(yīng)提高了。

    那么，在塞規(guī)不能滿足檢測需要的情況下，新的檢測手段應(yīng)該如何選擇呢？針對以上弊端，下期小編將整理出幾種方案供大家參考使用。

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